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X荧光光谱仪
( 型号 : EDX8300 )
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X荧光光谱仪

针对rohs检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素cd、pb、cr、hg、br 也可以测量镀层厚度 rohs指令检测主要技术指标 ※. 分析精度:0.05% ※. 样品室尺寸:1000*1000*300mm ※. 测量时间:60-300秒 ※. 工作电源:220u±5u ※. 高 压:15-50kv ※. 管 流:600μa ※. 计数率:1300-8000cps ※. rohs指令有害元素仪检出限cd/pb/cr/hg/br为1ppm ※. 检测时间为200秒 ※. 电致冷硅针半导体探测器 ※. 加强金属元素感度分析 仪器基本配置 ※.单样品腔 ※.计算机、喷墨打印机 ※.硅针半导体探测器 ※.硅针半导体探测器 ※.放大电路 ※.高低压电源 ※.x光管 ※.无真空腔体。



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